電子顯微鏡（EM）是一種高分辨率的顯微鏡，能夠以電子束而不是光束來觀察樣品的細微結構。

電子顯微鏡的基本結構包括以下幾個主要部分：
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電子源： 電子顯微鏡的核心是電子源，通常采用熱陰極或場發射電子槍。這個部分產生高能電子束，用于照射樣品。

電子透鏡系統： 電子束通過一系列電子透鏡，包括凸透鏡、偏轉透鏡和物鏡透鏡。這些透鏡系統用于控制和聚焦電子束，使其能夠在樣品上產生高分辨率的投影。

樣品臺： 樣品臺是樣品的支撐平臺，通常具有多個軸向的微動裝置，用于控制樣品在不同方向上的移動和旋轉，以便觀察不同部位。

檢測系統： 電子顯微鏡通常配備了多種檢測器，包括透射電子檢測器（Transmission Electron Detector）和掃描電子檢測器（Scanning Electron Detector）。這些檢測器捕捉經過樣品后的電子束，產生顯微圖像。

顯微鏡柱： 這是一個支撐和封裝上述組件的結構，它通常包括各種透鏡和電磁設備，用于控制電子束的路徑和聚焦。

計算機控制系統： 電子顯微鏡通常配備了計算機控制系統，用于控制儀器操作、數據采集和圖像處理。

真空系統： 電子顯微鏡必須在真空環境中運行，以防止電子束與氣體分子相互作用，影響圖像質量。真空系統包括真空泵和密封結構。

輔助設備： 這包括樣品制備設備，如切片機、薄膜制備設備、冷凍裝置等，用于準備樣品以供電子顯微鏡觀察。

控制面板： 電子顯微鏡上配備了控制面板，供操作員控制儀器的各個參數，如電子束強度、聚焦、對比度等。

電子顯微鏡的工作原理是利用電子波的波動性質，其波長遠遠小于可見光的波長，因此具有極高的分辨率。這使得電子顯微鏡能夠觀察到比光學顯微鏡更小的細節，例如原子和分子的結構。

總之，電子顯微鏡是一種高級的顯微鏡技術，具有出色的分辨率和成像能力，廣泛用于各種科學領域，包括材料科學、生物學、納米技術和化學等，以研究和觀察微觀世界中的結構和現象。